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華志電子取得天平耐老化測試裝置專利,具有高溫測試和低溫測試兩種功能:測試
國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示,華志(福建)電子科技有限公司取得一項(xiàng)名為“天平耐老化測試裝置”的專利,授權(quán)公告號(hào)CN223756151U,申請(qǐng)日期為2024年12月測試。 專利摘要顯示,本實(shí)用新型涉及電子天平領(lǐng)域,尤其涉及天平耐老化測試裝置,包括測試箱,測試箱的內(nèi)部通過隔板分隔為測試腔以及分別位于測試腔相對(duì)
國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示,華志(福建)電子科技有限公司取得一項(xiàng)名為“天平耐老化測試裝置”的專利,授權(quán)公告號(hào)CN223756151U,申請(qǐng)日期為2024年12月測試。 專利摘要顯示,本實(shí)用新型涉及電子天平領(lǐng)域,尤其涉及天平耐老化測試裝置,包括測試箱,測試箱的內(nèi)部通過隔板分隔為測試腔以及分別位于測試腔相對(duì)